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臺式電鏡粒度分析 電子顯微鏡

臺式電鏡粒度分析 電子顯微鏡

簡(jiǎn)要描述:使用飛納臺式掃描電鏡的顆粒統計分析測量系統,以快速、簡(jiǎn)便的方式實(shí)現顆粒的可視化分析。飛納臺式電鏡粒度分析測量系統支持用戶(hù)收集多種亞微米顆粒的形態(tài)和尺寸數據。

產(chǎn)品型號: Particle Metric

所屬分類(lèi):臺式電鏡粒度分析

更新時(shí)間:2024-06-24

廠(chǎng)商性質(zhì):其他

詳情介紹
品牌其他品牌產(chǎn)地進(jìn)口
產(chǎn)品新舊全新放大倍率2,000,000x
分辨率1.8nm加速電壓1kV-20kV

結合飛納臺式電鏡粒度分析測量系統,以快速、簡(jiǎn)便的方式實(shí)現顆粒的可視化分析,代表著(zhù)微觀(guān)顆粒分析技術(shù)的一大進(jìn)步??焖?、易用和超清晰成像質(zhì)量的飛納臺式掃描電鏡,加上顆粒統計分析測量系統的顆粒圖像分析功能,為用戶(hù)檢驗、分析各種各樣的顆粒、粉末樣品創(chuàng )造了一個(gè)強大工具。

顆粒統計.jpeg

超越光學(xué)顯微鏡分析,*自動(dòng)化的顆粒統計分析測量系統把可視化分析提高到了一個(gè)新臺階,這將在粉末設計、開(kāi)發(fā)和質(zhì)量控制中產(chǎn)生進(jìn)一步的探索和創(chuàng )新。

 

柱狀圖、散點(diǎn)圖和生成的圖像可以選定格式導出,并生成報告。所有被測顆粒的柱狀圖都可以顯示為數量分布或體積分布。

 

散點(diǎn)圖可以從顆粒屬性的任意組合中繪制出來(lái),以揭示相關(guān)性和趨勢。飛納臺式電鏡粒度分析測量系統支持用戶(hù)獲得他們需要的數據。因此,顆粒系統加快了顆粒分析速度,提高了產(chǎn)品質(zhì)量。

 

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顆粒分析

 

• 顆粒尺寸范圍:100 nm – 0.1 mm

• 顆粒探測速度:高達 1000 個(gè)/分鐘

• 測量屬性:大小、形狀、數量

 

復納科學(xué)儀器 (上海) 有限公司 (Phenom Scientific),負責荷蘭飛納臺式掃描電鏡在中國市場(chǎng)的推廣和銷(xiāo)售,提供專(zhuān)業(yè)的和測試服務(wù),飛納電鏡擁有專(zhuān)業(yè)的服務(wù)團隊,提供優(yōu)化的解決方案;飛納電鏡在上海、北京、廣州設立了測試中心和售后服務(wù)中心,目前飛納在中國已經(jīng)擁有超過(guò) 1000 名用戶(hù)。

 

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